Progetto |
Le nostre capacità |
Precisione |
Numero massimo di strati |
Illimitato |
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Spessore massimo della scheda |
6 mm |
+0,05 mm (2 mi) |
Dimensione massima |
640mmx480mm |
+0,1 mm (4 mil) |
Larghezza minima della linea |
Scheda dura 0,01 mm (0,4 mil) / scheda flessibile 0,005 mm (0,2 mil) |
+0,01 mm (0,4 mil) |
Gasso di linea minimo |
Scheda dura 0,01 mm (0,4 mil) / scheda flessibile 0,005 mm (0,2 mil) |
+0,01 mm (0,4 mil) |
Meccanico minimo attraverso il foro |
Carta hard 0,15 mm (6 mil) 1 scheda flessibile 0,1 mm (4 mi) |
+0,01 mm (0,4 mi) |
Buco sepolto meccanico minimo |
Carta hard 0,15 mm (6 mil) 1 scheda flessibile 0,1 mm (4 mi) |
+0,01 mm (0,4 mi) |
Buco cieco laser minimo |
Scheda dura 0,1 mm (4 mi) 1 scheda flessibile 0,1 mm (4 mi) |
+0,01 mm (0,4 mil) |
Buco sepolto laser minimo |
Carta hard 0,1 mm (4 mil) / scheda flessibile 0,1 mm (4 mil). |
+0,01 mm (0,4 mil) |
Tipo di buco cieco |
1 °, 2 °, 3 °, buchi ciechi laser al 4 ° ordine |
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Tipo di foro sepolto |
> 20 categorie |
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Misurazione dello spessore del rame multistrato |
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+1,7 um (0,05 once) |
Misurazione dello spessore di interayer multistrato |
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+5 um (0,2 mi) |
Calcolo dell'impedenza |
5 ~ 1500 |
0.5
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Misurazione del valore della resistenza |
0,0000010 ~ 20 MQ |
5% |
Misurazione del valore del condensatore |
0,001pf ~ 100f |
5% |
Misurazione dell'induttanza |
0,001NH ~ 10H |
5% |
Misurazione della resistenza equivalente a tallone magnetico |
100 ~ 2000 Q (100 MHz) |
10% |
Misurazione della frequenza di cristallo |
1kHz ~ 200mHz |
1% |
Misurazione del diodo Zener |
0,5 V ~ 56 V. |
+0,01V |